氙燈穩(wěn)態(tài)I-V測(cè)試儀（電池）設(shè)備使?氙燈作為穩(wěn)態(tài)光源，可?于晶硅、鈣鈦礦與疊層電池?及其相應(yīng)的組件的IV測(cè)試。設(shè)備主要配置有光源控制系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)、測(cè)試系統(tǒng)、恒溫系統(tǒng)、紅外測(cè)溫探頭、參考電池、計(jì)算機(jī)、顯示器等。

更新時(shí)間：2025-05-08

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穩(wěn)態(tài)氙燈太陽(yáng)光模擬器

手套箱型氙燈穩(wěn)態(tài)模擬器氙燈穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器大幅面氙燈穩(wěn)態(tài)模擬器

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鈣鈦礦與疊層太陽(yáng)電池I-V測(cè)試方法

產(chǎn)品介紹

氙燈穩(wěn)態(tài)I-V測(cè)試儀（電池）設(shè)備使?氙燈作為穩(wěn)態(tài)光源，可?于晶硅、鈣鈦礦與疊層電池?及其相應(yīng)的組件的IV測(cè)試。設(shè)備主要配置有光源控制系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)、測(cè)試系統(tǒng)、恒溫系統(tǒng)、紅外測(cè)溫探頭、參考電池、計(jì)算機(jī)、顯示器等。設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)標(biāo)配I-V、V-I掃描?式，具備MPPT（最?功率點(diǎn)追蹤）、I-t（定電壓）等多種測(cè) 試技術(shù)?？色@取I-V曲線，P-V曲線，輻照度曲線，短路電流，開(kāi)路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，定電壓點(diǎn)電流，填充因?，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻等測(cè)試參數(shù)。

氙燈穩(wěn)態(tài)I-V測(cè)試儀（電池）主要產(chǎn)品參數(shù)

適配標(biāo)準(zhǔn) Standard	IEC60904-9:2020	IEC60904-9:2020
光源類(lèi)型 Light type	氙燈穩(wěn)態(tài)光源	Xenon Lamp
冷卻方式 Cooling	定制風(fēng)冷	Forced air cooling
光源壽命 Light source lifetime	＞1000h	＞1000h
光譜范圍 Spectrum wavelength	300-1200nm	300-1200nm
光源等級(jí) Classfication of light source	光譜匹配度 0.875-1.125 A+ 輻照度不均勻度 ≤2% A 輻照度不穩(wěn)定度 ≤1% A+	Spectral match is 0.875-1.125, class A+ Irradiance non-uniformity is ≤2%, class A Irradiance instability is ≤1%, class A+
輻照度范圍 Irradiance intensity	200W/㎡~1200W/㎡	200W/㎡~1200W/㎡
測(cè)試面積 Illumination area	? 200200mm? 240240mm ? 300300mm? 320320mm ? 可定制其他尺寸	? 200200mm? 240240mm ? 300300mm? 320320mm ? Other size can be customized
測(cè)試模式 Test mode	穩(wěn)態(tài)測(cè)試模式可自由設(shè)定由1s到連續(xù)照光	Under steady-state mode, it can be set freely from 1s to continuous illumination. Besides
多通道設(shè)計(jì) Multi-channel testing design	可實(shí)現(xiàn)36通道同時(shí)測(cè)試，通道數(shù)量可定制	36 channels can be tested simultaneously, and the number of channels can be customized
測(cè)試技術(shù) Testing technology	標(biāo)配I-V、V-I掃描方式，具備MPPT（最大功率點(diǎn)追蹤）、I-t（定電壓）等多種測(cè)試技術(shù)，可通過(guò)軟件切換，同時(shí)集成逐點(diǎn)掃描方式（滿足最短≤0.2s步進(jìn)的掃描方式）	It equipped with I-V, V-I scanning, MPPT (maximum power point tracking), I-t (constant voltage) and other test technologies, all these technologies can be switched by software. It also equipped point-by-point scanning ( meet the shortest scanning in step of ≤0.2s
測(cè)試電池 Measurable cell type	多晶、單晶、Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層等	Poly-crystalline, Mono-crystalline, TopCon, HJT, BC,CIGS, GaAs, CdTe and Perovskite
可增配項(xiàng) Optional service	? 集成溫控系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)溫度系數(shù)測(cè)試 ? 集成EL測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試 ? 可定制0BB測(cè)試工裝、鈣鈦礦適配工裝 ? 集成IR紅外熱像儀，實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試 ? 手套箱（米開(kāi)羅那）	? Temperature Chamber can be integrated to achieve measurement of temperature coefficient ? EL testing system can achieve IV and EL testing at a same production section ? Jigs for 0BB cells and perovskite can be customized. ? Integrated with IR infrared thermal imager to realize heat spot testing ? Glove box（MIKROUNA）